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美國Megger (AVO)絕緣電阻測試儀MIT1020/2

簡要描述:測試電壓:50V~10000V
測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1KV-10KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測試電阻(阻抗)顯示Z大讀數(shù)35TΩ,顯示Z小讀數(shù)10KΩ
短路電流:3mA
實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測試電壓,電流和阻抗

  • 產(chǎn)品型號(hào):MIT1020/2
  • 品牌:MEGGER/美國
  • 更新時(shí)間:2024-09-03
  • 瀏覽次數(shù):3423

MIT1020/2美國Megger (AVO)絕緣電阻測試儀MIT1020/2的詳細(xì)資料:

簡單介紹
測試電壓:50V~10000V
測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1KV-10KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測試電阻(阻抗)顯示zui大讀數(shù)35TΩ,顯示zui小讀數(shù)10KΩ
短路電流:3mA
實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測試電壓,電流和阻抗

美國Megger (AVO)絕緣電阻測試儀MIT1020/2的詳細(xì)介紹

美國Megger (AVO) MIT1020/2 10KV絕緣電阻測試儀(高壓兆歐表)

產(chǎn)品特點(diǎn):

全新的MIT1020/2絕緣電阻測試儀MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來測試和維護(hù)高壓設(shè)備的*儀器。

IEEE43-2000推薦使用者可以使用MIT1020/2來測試額定超過12KV的電動(dòng)機(jī)的繞組。

雙路電源輸入設(shè)計(jì):可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電,也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測試的場所不清楚是否有電源或者測試周期不清楚的時(shí)候,都可以來進(jìn)行測試。

數(shù)字/模擬雙顯示測試結(jié)果

測試電壓由50V 10KV 可調(diào)

測試電壓在50V-1000V 的范圍里以10V(步進(jìn))微調(diào),1000V-10000V的范圍里以25V(步進(jìn))微調(diào)。

絕緣電阻測量測試范圍擴(kuò)展為35TΩ,用于對高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢分析等。

 

▲短路電流:3mA

▲抗干擾:2mA rms

 

全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。

絕緣電阻測試儀顯示的信息:絕緣阻值,實(shí)時(shí)測試電壓,泄漏電流,等效電容,電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí),每次測試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測試時(shí)間,這就不需要在測試時(shí)額外計(jì)時(shí)。

絕緣電阻測試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器,還具備絕緣測試設(shè)限告警功能。

儀器上還帶有一個(gè)接地端子,使儀器能提高其精確性。

儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊,方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。

儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。

產(chǎn)品功能:

內(nèi)置多種自動(dòng)測試程序:

IR 絕緣電阻測試、

DAR 吸收比測試介電吸收率、

PI 極化指數(shù)測試、

SV 步進(jìn)電壓跨步電壓測試

DD 測試介質(zhì)放電

測試上限擴(kuò)展:35TΩ

提供USBRS232接口下載數(shù)據(jù)

儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器可保存測試結(jié)果:存儲(chǔ)測試電壓,預(yù)設(shè)時(shí)間,泄漏電流,絕緣電阻,極化指數(shù),DAR,DD,等效電容, 時(shí)間常數(shù)。

產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo):

電源

95-240V,50/60 Hz 60VA 

電池使用時(shí)間

10KV 狀態(tài)下,進(jìn)行4小時(shí)連續(xù)測試

測試電壓(DC)

1KV-10KV,每 25V 步進(jìn)

精度

± 5% 1 TΩ

23°C

± 20% 20 TΩ

顯示范圍

數(shù)字顯示 10 KΩ 35 TΩ

模擬顯示 100 KΩ 1 TΩ

短路電流/

3mA

充電電流

電容充電時(shí)間

≤5/µF @ 3mA

電容放電時(shí)間

放電從 10000V

50V ≤250 ms/µF

電容測量

10nF 50µF(取決于測量電壓)

電容測量精度

± 5% ± 5nF

23°C

電壓輸出精度

基本測試電壓的 +4% @ 1GΩ

0°C-30°C

±25V非標(biāo)測試電壓(<500V

測試電流范圍

0.01mA to 5mA

測量電流精度

± 5% ± 0.2mA @ 各種電壓量程

23°C

抗干擾

2mA rms

主計(jì)時(shí)器量程

99分鐘59

導(dǎo)線

3條測試導(dǎo)線,帶絕緣夾頭

內(nèi)存容量

32KB

內(nèi)置測試程序

自動(dòng)IRPI,DARDD,SV

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

存儲(chǔ)測試電壓,預(yù)設(shè)時(shí)間,泄漏電流,絕緣電阻,極化指數(shù),DAR,DD,等效電容, 時(shí)間常數(shù)

工作溫度

-10°C-+50°C

儲(chǔ)存溫度

-25- +65

濕度

90% RH非凝固@40

保護(hù)等級(jí)

IP65

安全標(biāo)準(zhǔn)

符合EN61010- 12001 CATIII 300V

EMC

符合EN61326-11998

外形尺寸

305mm ×194 mm ×360 mm

重量

約71公斤

產(chǎn)品持有證書

CE

絕緣電阻測試儀測試指標(biāo)名詞解釋

 

PI

極化指數(shù)測試

 

極化指數(shù):在同一次試驗(yàn)中,10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。

 
 

DAR

感應(yīng)吸收比誘電吸收比測試  

 

吸收比:在同一次試驗(yàn)中,60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。

 
 
 

(SV

步進(jìn)電壓測試

 

DD

介質(zhì)放電(誘電體放電)

 

 

絕緣電阻,吸收比,極化指數(shù)之間的關(guān)系
當(dāng)說吸收比時(shí),應(yīng)該說到絕緣電阻極化指數(shù)。
絕緣電阻:在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對電極的泄漏電流值之比。
R=U/I,常用單位:()兆歐

10KV系列絕緣電阻測試儀選型及功能對照表

產(chǎn)品型號(hào) MIT1020/2 S1-1052/2 S1-1054/2
絕緣電壓測試范圍      
50~10,000V(可步進(jìn)調(diào)節(jié))
絕緣測試      
絕緣電阻測試顯示范圍zui大顯示數(shù)字讀數(shù) 35 T Ω 35 T Ω 35 T Ω
絕緣電阻測試顯示范圍zui小顯示數(shù)字讀數(shù) 10 k Ω 10 k Ω 10 k Ω
絕緣電阻測試顯示范圍zui大顯示模擬讀數(shù) 1 T Ω 1 T Ω 1 T Ω
絕緣電阻測試顯示范圍zui小顯示模擬讀數(shù) 100 k Ω 100 k Ω 100 k Ω
功能      
zui大輸出電流 5mA 5mA 5mA
短路電流 3mA 5mA 5mA
抗干擾抑制 2mA 2mA 4mA
自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測試
自動(dòng)測量絕緣電阻
DAR吸收比測試(介電吸收率)
PI 極化指數(shù)測試
SV 步進(jìn)電壓跨步電壓測試
DD 測試介質(zhì)放電測量
內(nèi)置定時(shí)器器
內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器
顯示      
數(shù)字和模擬雙重顯示
顯示測試電壓
顯示試品充電時(shí)間
顯示充電電流
顯示時(shí)間

絕緣電阻測試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測試程序,可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測試,提供全部分析結(jié)果:
絕緣電阻測試儀外殼由硬塑聚炳烯制造,由于在生產(chǎn)過程中經(jīng)過特殊處理,因此特別堅(jiān)固耐用,而且輕巧便于攜帶,符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。

(替代S1-5005MEG-10-01

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