產(chǎn)品目錄 / Products
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簡要描述:英國牛津測厚儀:1、牛津儀器OXFORD-760系列銅厚測試儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計。2、OXFORD-760可用于測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度準(zhǔn)確和精確的測量。
英國牛津臺式測厚儀 OXFORD-760
產(chǎn)品特點: 高靈活性的銅厚測試儀
1、牛津儀器OXFORD-760系列銅厚測試儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計。
2、OXFORD-760可用于測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度準(zhǔn)確和精確的測量。
3、OXFORD-760臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴展性,對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。
4、OXFORD-760具有*的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。SRP-4探頭:SRP系列探頭應(yīng)用*的微電阻測試技術(shù)。測量時,通過厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠地得出厚度值,而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響??捎捎脩糇孕刑鎿Q探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。耗損的探針能在現(xiàn)場迅速,簡便的更換,將停機時間縮至zui短,更換探針模塊遠比更換整個探頭經(jīng)濟。
5.OXFORD-760的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個替換用探針模塊。另行訂購的探針模塊以三個為一組,另外,細繩式的SRP-4探頭采用結(jié)實耐用的連接線和更小的測量覆蓋區(qū)令使用更為方便。
SRP-配件特點
SRP-4探頭:
SRP系列探頭應(yīng)用*的微電阻測試技術(shù)。測量時,通過厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠地得出厚度值,而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響??捎捎脩糇孕刑鎿Q探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。耗損的探針能在現(xiàn)場迅速、簡便地更換,將停機時間縮至zui短。更換探針模塊遠比更換整個探頭經(jīng)濟。OXFORD-760的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個替換用探針模塊。另行訂購的探針模塊以三個為一組。
英國牛津測厚儀
ETP 探頭:
ETP探頭采用電渦流測試技術(shù)。電渦流測試方法指示出印刷電路板穿孔內(nèi)銅厚是否符合要求。*設(shè)計的探頭使測量準(zhǔn)確、不受板內(nèi)層影響,即使是雙層板或多層板,甚
至在有錫或錫/鉛保層的情況下,同樣能夠良好工作。
OXFORD-760儀器配ETP 探頭采用溫度補償技術(shù),即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板,也能實現(xiàn)對穿孔內(nèi)鍍銅厚度的測量。
準(zhǔn)確度:±(0.25μm)<(25μm) |
精確度:1.2mil時,1.0%(典型情況) |
分辨率:0.01mils(0.25μm) |
電渦流:遵守ASTME37696標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定 |
測量厚度范圍:(2-102μm) |
孔zui小直徑:(899μm) |
SRP-4 探頭規(guī)格:
ETP 探頭規(guī)格:
準(zhǔn)確度:±1%(±0.1μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片 |
精確度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2%; |
電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.3% |
分辨率:0.1μm>10μm, 0.01μm<10μm, 0.001μm<1μm |
測量厚度范圍: 銅:0.25μm-254μm 線形銅寬:203μm-76.2mm |
主機規(guī)格:
存儲量:8000 字節(jié),非易失性 |
尺寸:(29.21× 26.67× 13.97 厘米) |
重量:(2.79 千克) |
單位:通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換 |
單位:可選擇mils 、μm、μin、mm、in或%作為顯示單位 |
接口:RS-232 串行接口,波特率可調(diào),連接打印機或計算機 |
顯示:帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏,480(H)×32(V) 象素 |
統(tǒng)計顯示:測量個數(shù),標(biāo)準(zhǔn)差,平均值,zui大值,zui小值 |
統(tǒng)計報告:存儲位置,測量個數(shù),銅箔類型,線形銅線寬, 測量日期/ 時間,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,方差百分比,準(zhǔn)確度, zui高值,zui低值,值域,CPK值,單個讀數(shù),時間戳, 直方圖圖表:直方圖,趨勢圖,X-R圖 |
OXFORD-760配置包括: 可選配件:
(面銅應(yīng)用): |
OXFORD-760主機 |
SRP-4探頭 |
SRP-4探頭替換用探針模塊(1個) |
NIST認(rèn)證的校驗用標(biāo)準(zhǔn)片(2個) |
(穿孔內(nèi)銅應(yīng)用): |
ETP探頭 |
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